封装树脂本身的热膨胀系数通常明显高于无机填料,提高SiO₂比例有助于降低复合体系的热膨胀系数(Coefficient of Thermal Expansion,CTE),并减小热机械应力。因此,在对尺寸稳定性、翘曲控制和热可靠性要求较高的封装体系中,通常需要加入较高比例的无机填料。不过,随着填料添加量持续提高,颗粒之间以及颗粒与树脂之间的相互作用也会增强,熔体或浆料黏度通常随之上升,进而影响模塑流动、窄间隙填充和成型稳定性。因此,当封装材料采用较高填料比例时,真正需要平衡的是“降低CTE”与“保持加工流动性”这两个目标。
球形二氧化硅凭借较规则的颗粒形貌,可减少颗粒之间的相互阻碍,有利于在较高填充量下维持较好的流动性,因此成为这类封装体系中的重要填料选择[1]。
球形二氧化硅较规则的颗粒形貌有利于降低颗粒之间的机械阻碍和流动阻力。与多角形等不规则颗粒相比,表面较平滑的球形颗粒在树脂中更容易发生相对移动,在高填充状态下也较少受到颗粒相互咬合的影响,因此有利于降低体系黏度并改善流动性。有研究在比较相近粒径的球形熔融二氧化硅与多角形熔融二氧化硅后发现,采用球形填料的EMC具有更低的黏度和更大的螺旋流动长度;在该研究设置的对比实验中,颗粒形状对EMC黏度和流动性的影响,比熔融二氧化硅与结晶二氧化硅之间的差异更加明显[1]。这意味着,球形SiO₂的主要价值并不是进一步降低SiO₂本身的CTE,而是在为降低复合材料CTE而提高填料比例时,帮助体系保持可接受的黏度、流动性和成型性能。Denka早在2000年就公开说明,高流动EMC推动了高填充球形熔融二氧化硅向更高球形度和更细粒径发展,说明这一技术路线在半导体封装领域已经有多年的产业应用与持续优化历史[5]。
除了颗粒形貌之外,粒径分布也会直接影响SiO₂在树脂中的堆积状态,从而影响体系能够实现的填充量。不同粒径的球形颗粒可以利用小颗粒填补大颗粒之间的空隙,从而提高最大固相体积分数;针对多峰球形SiO₂悬浮体系的研究也显示,优化粒径分布能够显著提高固含量和堆积密度[2]。因此,封装用球形SiO₂通常需要同时考虑D50、粒径分布宽度以及不同粒径Grade之间的组合,而不宜仅依据一个平均粒径判断高填充能力。
当粒径进一步减小时,较细颗粒更有利于进入窄间隙,但颗粒比表面积也会随之增大,使颗粒间作用和树脂—填料界面面积增加,进而可能带来团聚和体系黏度上升。Underfill相关研究表明,细粒径SiO₂的分散状态和表面化学会直接影响体系的流变、CTE和粘接性能[3]。在模塑底部填充(MUF)中,粗大颗粒可能阻碍窄间隙填充;但粒径过度减小,也可能因比表面积增加和黏度上升而缩短材料的流动距离[4]。因此,窄间隙封装需要综合考虑平均粒径、粗大颗粒上限与体系黏度,在填充通过性和加工流动性之间取得平衡。
随着细颗粒比例提高,颗粒表面与树脂之间的界面作用会更加突出,表面处理也会进一步影响高填充体系的分散状态和流动性能。即使采用球形颗粒,如果SiO₂表面与树脂的相容性不足,仍可能出现团聚并影响加工稳定性。硅烷等表面处理可以调节SiO₂与环氧树脂之间的界面作用,帮助颗粒在树脂体系中保持更均匀的分散,并改善流变和界面性能[3]。因此,在比较不同球形SiO₂产品规格时,除了球形度和粒径分布,还应结合表面处理方式,在目标树脂体系中评价其实际黏度、流动性和分散稳定性。
无论本国采购还是跨境采购,供应方与采购方都需要把粉体指标与实际加工条件对应起来。供应方应稳定提供粒径分布、颗粒形貌、粗大颗粒控制、表面处理方式、纯度及批次一致性等数据;采购方则结合目标填充量、混炼黏度、模流或封装间隙尺寸,确定真正需要控制的项目。即使D50相同,不同粉体在粒径分布、粗颗粒含量和表面状态等方面的差异,仍可能带来不同的配方表现,供应商提供的材料最终还需要在目标树脂和实际工艺条件下进行验证。
对于跨境供货,还需要进一步确认双方采用的检测标准和测试条件。以粒径采用激光回折・散乱法评价为例,日本可依据JIS Z 8825:2022,该标准对应ISO 13320:2020[6][7]。如果供应方使用其他国家或企业内部方法,还应确认样品分散、测试条件和结果表示方式是否能够与客户要求对应,以保证双方数据具有可比性。
综上所述,球形SiO₂适合高填充封装,核心在于其规则的颗粒形貌能够降低颗粒间的机械阻碍和体系流动阻力,并通过合理的粒径分布提高堆积效率,从而在较高无机填料比例下仍保持可接受的黏度、流动性和成型性能。对供应方而言,关键在于将球形度、粒径分布、粗大颗粒控制和表面处理稳定转化为可重复的产品规格;对采购方而言,则需要把这些粉体指标与实际黏度、流动性、间隙填充能力和CTE表现对应起来。因此,球形SiO₂在高填充体系中的实际表现,是由颗粒形貌、粒径设计、表面状态以及树脂体系共同决定的。
来源
- [1] Chao, S.; Liaw, Y.; Chou, J.-H. The Effects of Filler Shape, Type, and Size on the Properties of Encapsulation Molding Components. Electronics, 2021, 10(2), 98. Published 6 January 2021. DOI: 10.3390/electronics10020098.
- [2] Lin, T.; Hu, X.; Chen, Y.; Li, Y.; Ling, Z. Rheology, packing and sintering behavior in dense suspension of multimodal spherical silica. Ceramics International, 2020, 46(16), 25097–25105. DOI: 10.1016/j.ceramint.2020.06.296.
- [3] Li, G.; He, Y.; Zhu, P.; Zhao, T.; Sun, R.; Lu, D.; Wong, C.-P. Tailored surface chemistry of SiO₂ particles with improved rheological, thermal-mechanical and adhesive properties of epoxy based composites for underfill applications. Polymer, 2018, 156, 111–120. DOI: 10.1016/j.polymer.2018.09.063.
- [4] Tsuji, T.; Akashi, T.; Watanabe, N.; Nishidono, K.; Nakamura, M. Development of Encapsulant Material for Molded Underfill for Fine Pitch Flip Chip Packages. 2016 IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), pp. 749–754. DOI: 10.1109/ECTC.2016.260.
- [5] Denka Company Limited. 「球状溶融シリカフィラー製造設備を増強」, 2000年7月1日。公开资料指出,高流动EMC的发展推动高填充球状熔融二氧化硅进一步提高球形度并细化粒径。
- [6] 日本产业标准 JIS Z 8825:2022《粒子径解析―レーザ回折・散乱法 / Particle size analysis — Laser diffraction methods》,2022年3月22日发行;对应国际标准ISO 13320:2020(IDT)。
- [7] ISO 13320:2020, Particle size analysis — Laser diffraction methods. International Organization for Standardization, published January 2020.
